Сканирующие микроскопы. Изучение сверхмалых объектов
Обычный световой микроскоп люди применяют на протяжении нескольких сотен лет. Электронные сканирующие устройства появились сравнительно недавно. Произошло это в 1931 году. Именно тогда был создан электронный микроскоп. Именно тогда возникла необходимость изучение мелких объектов. Традиционные оптические устройства уже не могли справиться с этой достаточно сложной задачей.
В настоящее время электронная сканирующая микроскопия невероятно актуальна. Такое исследование распространено в процессе изучения наноструктур и наноматериалов.
В электронной сканирующей микроскопии применяется современное оборудование, которое позволяет. Получать невероятное увеличение в сотни тысяч карат. Это дает возможность наблюдать за микроскопическими объектами и получать максимально достоверную информацию о характере их поверхности и составе слоев.
Особенности устройства
Сканирующий электронный микроскоп устроен совершенно иначе. Если в обычном микроскопе предусмотрен источник света, здесь установлена электронно-лучевая трубка. Именно ею излучаются электроны.
Из сканирующего устройства исходит целый пучок электронов. При этом он характеризуется различными параметрами энергии. Он фокусируется на поверхности образца. Создается пятно. Его диаметр составляет примерно 5 нм. Данное пятно как раз и позволяет сканировать поверхность. В процессе столкновения пучка электронов с поверхностью происходит эмиссия электронов и фотонов из объекта. Они оказываются в электронно-лучевой трубке и преобразуются в изображение.
С помощью сканирующего микроскопа можно досконально изучить особенности поверхностей исследуемых образцов.
Изображения, формирующиеся в процессе проведения микроскопии делятся на:
- Образующиеся за счет электронов вторичного типа.
- Формирующиеся за счет электронов обратно рассеянного типа.
- Формирующиеся посредством рентгеновского излучения.
Для функционирования оборудования необходимы определенные условия. Так, например, электроны не могут просто перемещаться в воздухе. Вот почему для того, чтобы использовать данную технологию, нужно создать вакуум. Это делает технологический процесс сложнее.
Сканирующий микроскоп может работать в помещении, в котором нет электромагнитных излучений.
Взглянуть на каталог сканирующих микроскопов можно по ссылке https://arstek.ru/
Плюсы микроскопии
Такая методика обладает массой достоинств:
- Обеспечивается большее разрешение и высокая глубина резкости.
- Удается получить изображение объекта исследования в трех плоскостях. Это существенно упрощает интерпретацию результатов проведенных исследований.
- К сканирующему микроскопу возможно подключение дополнительного оборудования. В данном случае анализировать полученные данные будет намного проще.
- Возможно проводить исследование рельефных и объемных объектов.
В сканирующих микроскопах установлена автоматизированная оптика отличного качества. Это дает возможность получать максимально точные результаты проведенных исследований. К современным устройствам данного типа могут быть подключены аналитические приставки. С их помощью ведется предельно четкий морфологический анализ поверхностей объектов.
Применение сканирующего микроскопа
Инновационные устройства применяются для идентификации и морфологии поверхностей объектов с помощью зонда, взаимодействующего с поверхностью.
Разновидностью зондового метода является туннельная микроскопия. На иглу подают потенциал. Это приводит к формированию туннельного тока. Меняющиеся в процессе исследования показания дают возможность получить максимально точную информацию об объекте.
Сканирующая микроскопия – современная методика исследований, которая позволяет досконально изучать даже сверхмалые объекты. При этом гарантирован максимально точный результат.
.